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IC芯片电性能参数测试

来源：admin 时间：2024-08-09 14:07 浏览量：142

芯片测试作为芯片设计、生产、封装、测试流程中的重要步骤，是使用特定仪器，通过对待测器件DUT(Device Under Test)的检测，区别缺陷、验证器件是否符合设计目标、分离器件好坏的过程。其中直流参数测试是检验芯片电性能的重要手段之一，常用的测试方法是FIMV（加电流测电压）及FVMI（加电压测电流），测试参数包括开短路测试(Open/Short Test)、漏电流测试（Leakage Test）以及DC参数测试（DC Parameters Test）等。

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